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阻抗分析儀IM7580A緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小，豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。

化學(xué)阻抗分析儀IM3590較快2ms的高速測(cè)量，實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量的高速化，基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng)，適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學(xué)零件和材料的電阻（LCR）測(cè)量。

阻抗分析儀IM3570適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量，分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量，可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400。

C測(cè)試儀 3506-10對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試，模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測(cè)量，提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度。

C測(cè)試儀 3504-60對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能，3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試，3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試， 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。